一、像素坏点

每个传感器都存在一定数量的坏点。什么是像素坏点呢？像素坏点是指在暗场图像、校正灰度图像或饱和图像中，其响应值与局部背景值偏差超过规定范围的像素。由于不同应用的需求差异，业界对坏点的定义并不统一。

图一：像素坏点示例（图片来源：维基百科）

一般的视觉应用的要求通常远高于传感器制造商允许的坏点标准，因此Allied Vision也采用了更严格的定义。坏点校正，也称DPC（Defect Pixel Correction ），可进一步提升传感器质量，使其优于一般制造商提供的标准。坏点的产生源于半导体芯片的设计缺陷或制造误差，并在传感器的生命周期中逐渐显现。老化则主要由辐射（航空运输时尤为明显）或恶劣的工作环境导致。

所有Alvium相机在出厂时均已完成坏点校正。针对使用过程中可能出现的像素坏点问题，本期将为介绍如何基于EMVA 1288标准进行坏点校正（DPC）。

二、坏点类型及特征

坏点类型	与邻近像素的偏差	影响因素
高电平坏点	饱和或接近饱和	不受光照影响
低电平坏点	值为0或接近0	不受光照影响
热像素	值远高于正常	暗场中可见；随曝光时间和温度升高而加剧
高/低灵敏度坏点	灵敏度显著异常	仅在光照下显现

表一：坏点类型及特征

三、像素坏点举例

下图二展示了不同的像素坏点。

图二：坏点类型示例图片

1.高像素 - 灵敏度显著偏离

2.高电平卡死像素或热像素

3.低电平卡死像素

4.低像素 - 灵敏度显著偏离

5.高电平卡死像素或热像素簇

6.低电平卡死像素簇

（仅能通过分析不同图像序列来识别）

下图展示了应用DPC处理后的同一幅图像。

四、DPC校准的关键参数

Alvium相机的DPC校正可以在不损伤图像细节的前提下修正缺陷。校准参数模拟实际应用中的图像采集条件，在稳定的测试环境中生成可复现的数值。

1、温度参数

暗电流会随时间累积。由于热像素比平均值更亮，在暗场中会显现。高温和长曝光时间会显著加剧这种现象。因此，像素缺陷及其检测阈值通常针对特定曝光时间和工作温度定义。我们控制以下温度值：

·环境温度

·相机温度：确保在检测时相机温度最终稳定在典型工作温度

2、图像处理

通过多幅图像平均消除时域噪声，并进行处理以去除固定模式噪声。

五、DPC指标

所有校准图像均采用100ms曝光时间。阈值定义了像素与相邻像素的最大允许偏差值，超出即标记为缺陷。阈值基于相机型号的直方图确定（参见下图）。

各型号阈值如下

（部分Alvium相机阈值参数）

Alvium相机的DPC功能通过严格校准确保成像一致性，满足工业视觉的高标准需求。如需技术细节或应用支持，请通过在线客服联系今明视觉团队。